膜厚分析仪通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层，其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。利用算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。避免出现严重的生产缺陷。
膜厚分析仪的产品优势：
监控涂层质量，避免返工和报废：
可在烘干流程前测试湿膜厚度或粉末膜厚，发现并纠正偏差，避免报废和客户投诉。
节省材料，减少环境污染：
通过准确控制湿膜/粉末厚度，可减少返工，节约材料消耗。这样既省钱又保护环境。
操作简便，数据记录跟踪：
一键测试，可记录所有的测试数据，跟踪质量变化点，及时调整生产工艺。
质量保证：高精度控制涂料需求并设定新的质量标准。
膜厚分析仪的特长：
1、自动对焦功能自动接近功能
在样品台上放置各种高度的样品时，只要高低差在范围内，即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。
自动对焦功能简便的摄像头对焦
自动接近功能适合位置的对焦
2、通过新薄膜FP法提高测量精度
实现微小光束的高灵敏度，通过微小准直器提高了膜厚测量精度。另外，针对检测器的特性开发了新的EP法，可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书，简单方便。
新薄膜EP法
减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化
无标样测量方法可进行膜厚测量
自动对焦功能和距离修正功能
凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量
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