X射线荧光镀层测厚仪

X射线荧光镀层测厚仪设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，让您的鼠标键盘不再成为必须，极大减少您摆放样品的时间。
全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的精准测试。

X射线荧光镀层测厚仪硬件配置
采用高分辨率的SDD探测器，分辨率高达140EV进口的大功率高压，让Ag,Sn等镀层的测量能更加稳定。
配备微聚焦的X光管，犹如给发动机增加了涡轮增压，让数据的准确性更上层楼。
多种准直器可搭配选择：0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3mm。贴心打造出适合您的那一款。

X射线荧光镀层测厚仪硬件配置优势：

• 微小样品检测：最小测量面积0.008mm²

• 变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm

• 自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量

• 先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限

• 高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm²探测器

• X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置

• 上照式设计：实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量

• 可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量

• 多准直器自动切换

X射线荧光镀层测厚仪配置应用领域：

广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。