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X射线荧光镀层测厚仪

简要描述:X射线荧光镀层测厚仪是一款全元素上照式光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。

  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-05-11
  • 访  问  量:134
详情介绍
品牌其他品牌行业专用类型通用
价格区间10万-30万仪器种类台式/落地式
应用领域建材,电子

X射线荧光镀层测厚仪设计亮点
全新的下照式设计,一键式的按钮,让您的鼠标键盘不再成为必须,极大减少您摆放样品的时间。
全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合高性能距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的精准测试。

X射线荧光镀层测厚仪硬件配置
采用高分辨率的SDD探测器,分辨率高达140EV进口的大功率高压,让Ag,Sn等镀层的测量能更加稳定。
配备微聚焦的X光管,犹如给发动机增加了涡轮增压,让数据的准确性更上层楼。
多种准直器可搭配选择:0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3mm。贴心打造出适合您的那一款。

X射线荧光镀层测厚仪硬件配置优势:

  • 微小样品检测:最小测量面积0.008mm²

  • 变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm

  • 自主研发的EFP算法:AI(3)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量

  • 先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限

  • 高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积20/50mm²探测器

  • X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置

  • 上照式设计:实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量

  • 可编程自动位移:选配自动平台,X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量

  • 多准直器自动切换


X射线荧光镀层测厚仪配置应用领域:

广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。







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