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详情介绍
| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 10万-20万 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 化工,石油,建材,电子,纺织皮革 |
膜厚分析仪可适用于固体和液体的含量检测，用于液体中高含量金属成分的检测，满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试极微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm，可检测镀层厚度0.005um ，最小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm，特殊要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm(X-Y)/圈，再小再多的样品测试都可轻松操作。
膜厚分析仪技术参数：
1.探测器：半导体冷却硅漂移SDD探测器
2.探测器分辨率：130±5ev
3.分析范围：各种元素及有机物
4.可一次性同时分析：23层镀层，24种元素
5.最小测量面积：0.04mm²
6.对焦距离：0-30mm，特殊要求可达90mm
7.样品腔尺寸：500mm×360mm×215mm
8.仪器尺寸：550mm×480mm×470mm
9.仪器重量：45kg
仪器配置：
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.先进的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um
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