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膜厚分析仪

简要描述:膜厚分析仪系列能量色散X荧光光谱分析仪,是一款配备SDD探测器的高效率镀层测厚仪! 此款产品可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。

  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-05-12
  • 访  问  量:101
详情介绍
品牌其他品牌价格区间10万-20万
产地类别国产应用领域化工,石油,建材,电子,纺织皮革
  膜厚分析仪可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。
 
  搭配微聚焦X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,以及高敏变焦测距装置,可测试极微小和异形样品。
 
  含量分析检出限1ppm,可检测镀层厚度0.005um ,最小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm,特殊要求可达90mm。
 
  外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都可轻松操作。
 
  膜厚分析仪技术参数:
 
  1.探测器:半导体冷却硅漂移SDD探测器
 
  2.探测器分辨率:130±5ev
 
  3.分析范围:各种元素及有机物
 
  4.可一次性同时分析:23层镀层,24种元素
 
  5.最小测量面积:0.04mm²
 
  6.对焦距离:0-30mm,特殊要求可达90mm
 
  7.样品腔尺寸:500mm×360mm×215mm
 
  8.仪器尺寸:550mm×480mm×470mm
 
  9.仪器重量:45kg
 
  仪器配置:
 
  1.微焦X射线发生器
 
  2.光路转换聚焦系统
 
  3.高敏变焦测距装置
 
  4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
 
  5.先进的数字多道分析
 
  6.高精度微型移动滑轨
 
  7.标准片Ni/Fe 5um
 
  8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um
 

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